北京儀綜所環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測(cè)中心，位于北京市西城區(qū)廣安門外大街甲397號(hào)，是CNAS認(rèn)可機(jī)構(gòu)、CMA認(rèn)可機(jī)構(gòu)，提供各類電工電氣、儀器儀表、電子設(shè)備、通信設(shè)備、電路板卡的環(huán)境可靠性試驗(yàn)——高低溫試驗(yàn)、恒定濕熱/交變濕熱/高溫高濕試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、機(jī)械化振動(dòng)、高加速?zèng)_擊、IP防護(hù)等級(jí)認(rèn)證（IP68、IP65、IP54等）。

環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目介紹：

1、氣候環(huán)境類試驗(yàn)：

高溫試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品長時(shí)間儲(chǔ)存和工作的耐高溫能力。

低溫試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品長時(shí)間儲(chǔ)存和工作的耐低溫能力。

恒定濕熱試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品在濕熱環(huán)境下能長期儲(chǔ)存和繼續(xù)運(yùn)行的能力。

溫循試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品在溫度劇變時(shí)長時(shí)間儲(chǔ)存和工作的抵抗能力。

低氣壓試驗(yàn)：低氣壓試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱（室），然后將箱（室）內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。

霉菌試驗(yàn)：試驗(yàn)的目的是評(píng)定裝備的長霉程度以及長霉對(duì)裝備性能和使用的影響。

鹽霧試驗(yàn)：主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核樣品耐腐蝕性能。

2、機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)：

振動(dòng)試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品的抗振動(dòng)能力。

沖擊試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品的抗外部沖擊能力。

碰撞試驗(yàn)：目的是檢驗(yàn)樣品對(duì)于意外碰撞的抵抗能力。

3、電氣安全試驗(yàn)：

絕緣性能試驗(yàn)：絕緣電阻測(cè)試。檢驗(yàn)樣品電源輸入端對(duì)過電壓的耐受能力、電氣間隙，也可用于固體絕緣（爬電距離）的驗(yàn)證。

介質(zhì)強(qiáng)度試驗(yàn)：檢驗(yàn)樣品電源輸入端對(duì)暫態(tài)過電壓的能力、絕緣的長期耐受能力、電氣間隙和爬電距離。

沖擊電壓試驗(yàn)：檢驗(yàn)絕緣的耐受能力。

4、IP防護(hù)等級(jí)認(rèn)證測(cè)試：

提供IP68、IP68、IP54、IP55、IP65、IP51、IP20、IP30等級(jí)別的外殼防護(hù)等級(jí)的防水、防塵、防異物進(jìn)入測(cè)試。

我實(shí)驗(yàn)室是取得CNAS和CMA資質(zhì)的大型綜合性實(shí)驗(yàn)室，不僅可以進(jìn)行電磁兼容各個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試、試驗(yàn)、摸底驗(yàn)證，還提供環(huán)境可靠性、IP68防護(hù)等級(jí)、鹽霧、高低溫濕熱、振動(dòng)沖擊、碰撞、絕緣耐壓、介電強(qiáng)度的測(cè)試服務(wù)。

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